产品目录

产品图片产品名称型号产品概述
    • 水稻整穗考种仪
    • TPDS-X-1 plus
    • 水稻整穗考种仪采用先进的图像处理技术,根据深度学习算法综合设计的一款软件。该设备主要应用在水稻室内考种时期,对水稻穗粒数、一/二次枝梗数量和长度测量,为水稻形态学的研究、水稻良种选育提供良好的检测工具。 广泛适用于各农科院、高校、育种公司、种子站的水稻研究。


    • 水稻表型检测系统
    • TPS-BX-1
    • 水稻表型检测系统可测量水稻株高、夹角、茎粗、水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、一/二次枝梗数量和长度、各枝梗穗粒数、着粒密度、穗长、总粒数和千粒重等指标。


    • 小麦表型检测系统
    • TPM-BX-1
    • 小麦表型检测系统可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标。


    • 玉米表型检测系统
    • TPY-BX-1
    • 玉米表型检测系统可以测量凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、株高、茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和千粒重等指标。


    • 大豆表型检测仪
    • TPD-BX-1
    • 大豆表型检测仪可以测量大豆夹角、茎粗、总粒数和千粒重等指标,这些高通量表型参数为大豆品种筛选、产量预测、基因定位、功能解析等方面发挥着至关重要的作用。


    • 千粒重仪
    • V2.0
    • 千粒重仪利用图像识别、图像分割、图像处理等技术,能够检测种子形状,自动计算种子考种分析中种子粒数和千粒重,可测量计数所有常见种子,包括玉米,水稻,小麦,大豆,油菜籽,花生,芝麻,绿豆,红豆,草籽等。


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